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芯片HAST高溫蒸煮試驗(yàn)箱又稱(chēng)為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題的試驗(yàn)設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過(guò)程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴(lài)性試驗(yàn)等行業(yè)。

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集成電路 HAST加速老化試驗(yàn)箱在電子元器件行業(yè)中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。隨著電子產(chǎn)品的日益普及和更新?lián)Q代，人們對(duì)產(chǎn)品的可靠性和耐久性的要求也越來(lái)越高。因此，對(duì)電子元器件進(jìn)行可靠性測(cè)試變得尤為重要。HAST老化試驗(yàn)箱可以模擬產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的長(zhǎng)期使用，幫助企業(yè)了解產(chǎn)品的性能和可靠性，并為產(chǎn)品的改進(jìn)和優(yōu)化提供依據(jù)。

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